Products
產品目錄
HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機
HY(IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機
本儀器針對IC卡在國標GB/T 16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; 采用*的同步帶傳動，非接觸式光電計數(shù)，15工位同時測量大大提高的儀器的精度和使用壽命。
主要技術參數(shù)
外形尺寸：長×寬×高（670×380×220mm）
儀器重量：70kg
電壓：AC220V±5%
功率：35W
測試速度：彎曲30r/min
測試周期：1~9999次
彎曲度；長邊20 mm，短邊10 mm
扭曲度：15°±1°雙向
產品用途：用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。
好質量好品牌好服務在上海衡翼，更多優(yōu)惠請。
衡翼全體員工真誠為您提供優(yōu)質產品優(yōu)質服務。
公司承諾：
1.購機前，我們專門派技術人員為您設計*的流程和方案
2.購機后，將免費指派技術人員為您調試安裝
3.整機保修一年，產品終身維護
4.常年供應設備的易損件及耗品確保儀器能長期使用
上一篇 : HY（GW）HY（GW）鋼筋彎曲試驗機 下一篇 : HY-0580交叉搭接拉伸強度試驗機
